Użytkownik "Artur Miller" napisał w wiadomości grup
dyskusyjnych:nm8it1$qvm$...@u...news.interia.pl...
W dniu 2016-07-14 o 17:31, J.F. pisze:
>> http://electronicdesign.com/test-amp-measurement/mea
sure-nanoseconds-pic-microcontroller
>> nie zagłębiałem sie jeszcze w sens... za wczesnie.
>
>> spojrz na fig 3 - widac te ~20ns opoznienia od wejscia do wzrostu
>> na
>> kondensatorze.
>> Co prawda widac tez opoznienie po drugiej stronie, to moze sie
>> kompensuja, ale czy do 1ns ?

>ale mi nie chodzi o mierzenie nanosekundowych impulsów, tylko o taką
>dokładność. impuls będzie miał dużo więcej przecież. i dodatkowo cały
>układ będzie na początku i co jakiś czas kalibrowany.

Ja wiem, ale jesli opoznienie wlaczenia ladowania kondensatora jest ok
20ns, a opoznienie wylaczenia ladowania tez jest ok 20ns, to czy mozna
liczyc na 1ns dokladnosc/powtarzalnosc ?

J.