W dniu 2016-07-18 o 10:20, J.F. pisze:
> Użytkownik "Artur Miller" napisał w wiadomości grup
> dyskusyjnych:nm8it1$qvm$...@u...news.interia.pl...
> W dniu 2016-07-14 o 17:31, J.F. pisze:
>>> http://electronicdesign.com/test-amp-measurement/mea
sure-nanoseconds-pic-microcontroller
>>>
>>> nie zagłębiałem sie jeszcze w sens... za wczesnie.
>>
>>> spojrz na fig 3 - widac te ~20ns opoznienia od wejscia do wzrostu na
>>> kondensatorze.
>>> Co prawda widac tez opoznienie po drugiej stronie, to moze sie
>>> kompensuja, ale czy do 1ns ?
>
>> ale mi nie chodzi o mierzenie nanosekundowych impulsów, tylko o taką
>> dokładność. impuls będzie miał dużo więcej przecież. i dodatkowo cały
>> układ będzie na początku i co jakiś czas kalibrowany.
>
> Ja wiem, ale jesli opoznienie wlaczenia ladowania kondensatora jest ok
> 20ns, a opoznienie wylaczenia ladowania tez jest ok 20ns, to czy mozna
> liczyc na 1ns dokladnosc/powtarzalnosc ?
>
> J.
>


"powtarzalność" to chyba słowo-klucz. bo może sobie być 18 albo 50, byle
za każdym razem tyle samo. skompensuję to sobie w oprogramowaniu.

a.